出展社詳細
| 小間番号 | J-53 |
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| 出展社名 | カールツァイス株式会社
https://www.zeiss.co.jp/microscopy |
| 住所 |
〒102-0083 東京都千代田区麹町2‐10‐9 |
| 担当部署 | リサーチマイクロスコピーソリューション |
| FAX | 03-5214-1015 |
| みどころ | カールツァイスは、光学およびオプトエレクトロニクス分野で事業を展開するグローバルな先端企業です。光学顕微鏡から電子顕微鏡、Ｘ線顕微鏡まで取り揃え、製品ラインナップの豊富さは業界トップクラスです。 JIMAでは、日々の検査・研究業務を劇的に促進させることが可能な新機能を搭載したＸ線顕微鏡『VersaXRM 730』や低加速電圧の観察を得意とした走査電子顕微鏡をご紹介いたします。 必ず「使いたい！」「試したい！」「そうだったのか！」と思っていただける「何か」を見つけていただけます。 |
| 製品情報 |
サブミクロン分解能の非破壊3D X線イメージングをが可能なZEISS Xradia Versa 3D X線顕微鏡（XRM）。汎用性が極めて高く、幅広い材料や作業環境にご活用いただけます。ブースでは、8月末に世界同時に発表した、皆様の研究業務を劇的に促進させることが可能な新機能を搭載。詳しくは、ブースでご確認ください。 |
サブナノメートルイメージング、解析、多様な試料などの厳しい要件に応えるFE-SEMサブナノメートルの分解能での手間のかからないイメージングを実現します。これらのFE-SEM（電界放出型走査電子顕微鏡）は、卓越したイメージングと解析能力を兼ね備えています。電子光学系のイノベーションと新しいチャンバー設計により、画質、操作性、柔軟性が向上しました。イマージョンレンズを使用せずに1 kV以下でサブナノメートル画像を取得できます。 3種類のユニークな設計を、是非ブースでご確認ください。 |
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| SDGsへの貢献 |
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